永新光学申请光学元器件相位差检测专利,大大

永新 更新于:2025-01-27 21:12
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    金融界2025年1月27日消息,国家知识产权局信息显示,宁波永新光学股份有限公司申请一项名为“一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置”的专利,公开号CN 119354505 A,申请日期为2024年12月。

    专利摘要显示,本发明公开 了一种光学元器件相位 差的检测方法及简易检 测装置,采用激光光源、 起偏器、检偏器和光功率 检测器的组合方案,用于 替代偏振测量仪的组件, 采用特定的拟合方式,同 样能够实现待检测光学 元器件的相位差检测,同时通过将放置待检测光学元器件的第 二调整架设置成能够绕垂直于水平面的中心轴线转动,并将放 置检偏器的第三调整架和光功率检测器固定设置在能够绕第 二调整架的中心轴线转动的转臂上,能够在一台设备上同时实 现透射与反射相位差的检测需求,且全套设备总计不到1万元 人民币,大大降低了设备成本,并且与现有的检测设备的精度 基本相同,完全可以满足相位差检测的需要。

    天眼查资料显示,宁波永新光学股份有限公司,成立于1997年,位于宁波市,是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本11047.75万人民币,实缴资本6300万人民币。通过天眼查大数据分析,宁波永新光学股份有限公司共对外投资了5家企业,参与招投标项目292次,知识产权方面有商标信息17条,专利信息240条,此外企业还拥有行政许可12个。

    本文源自金融界

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